Общероссийский классификатор стандартов → ЭЛЕКТРОНИКА → Интегральные схемы. Микроэлектроника *Включая электронные микросхемы, логические и аналоговые микроструктуры *Микропроцессоры см. 35.160
31.200. Интегральные схемы. Микроэлектроника *Включая электронные микросхемы, логические и аналоговые микроструктуры *Микропроцессоры см. 35.160
-
Микросхемы интегральные. Методы измерения электрических параметров схем управления импульсными стабилизаторами напряжения
Integrated circuits. Methods of measuring electrical parameters of puls voltage regulators operation circuits
Настоящий стандарт распространяется на схемы управления импульсными стабилизаторами напряжения (СУ ИСН) и устанавливает требования для методов измерения электрических параметров СУ ИСН: время нарастания импульса коммутируемого тока время спада импульса коммутируемого тока -
Приборы полупроводниковые. Микросхемы интегральные. Часть 1. Общие положения
Semiconductor devices. Integrated circuits. Part 1. General
Настоящий стандарт применяется для разработки технических условий на интегральные микросхемы, в том числе подлежащие сертификации.
Стандарт подготовлен методом прямого применения международного стандарта МЭК 748-1-84 “Полупроводниковые приборы. Интегральные схемы. Часть 1. Общие положения“и полностью ему соответствуют -
Приборы полупроводниковые. Микросхемы интегральные. Часть 2. Цифровые интегральные схемы
Semiconductor devices. Integrated circuits. Part 2. Digital integrated circuits
Настоящий стандарт применяется для разработки технических условий на интегральные микросхемы, в том числе подлежащие сертификации. Стандарт устанавливает требования для следующих классов и подклассов приборов: комбинаторные и последовательностные цифровые схемы; интегральные схемы запоминающих устройств; интегральные схемы микропроцессоров; приборы с переносом заряда.
Стандарт подготовлен методом прямого применения международного стандарта МЭК 748-2-85 “Полупроводниковые приборы. Интегральные схемы. Часть 2. Цифровые интегральные схемы“и полностью ему соответствует -
Приборы полупроводниковые. Микросхемы интегральные. Часть 3. Аналоговые интегральные схемы
Semiconductor devices. Integrated circuits. Part 3. Analog integrated circuits
Настоящий стандарт устанавливает требования для следующих подклассов аналоговых интегральных схем:
операционных усилителей (с двумя входами и одним выходом);
усилителей низкой частоты, видеоусилителей и многоканальных усилителей для дальней связи;
усилителей высокой частоты и усилителей промежуточной частоты;
стабилизаторов напряжения и тока;
схем переключения аналоговых сигналов.
Данный стандарт применяется для разработки технических условий на интегральные микросхемы, в том числе подлежащие сертификации -
Приборы полупроводниковые. Микросхемы интегральные. Часть 4. Интерфейсные интегральные схемы
Semiconductor devices. Integrated circuits. Part 4. Interface integrated circuits
Настоящий стандарт применяется для разработки технических условий на интегральные микросхемы, в том числе подлежащие сертификации. В стандарте приведены требования для следующих классов и подклассов интерфейсных интегральных схем. Класс I: подкласс А - линейные схемы (передатчики и приемники); подкласс В - усилители считывания; подкласс С - периферийные формирователи (включая формирователи ЗУ) и схемы сдвига уровня; подкласс D - компараторы напряжения. Класс II линейные и нелинейные аналого-цифровые и цифроаналоговые преобразователи.
Стандарт подготовлен методом прямого применения международного стандарта МЭК 748-4-87 “Полупроводниковые приборы. Интегральные схемы. Часть 4. Интерфейсные интегральные схемы“и полностью ему соответствует -
Микросхемы интегральные аналоговые. Общие требования к измерительной аппаратуре и условиям измерения электрических параметров
Analog integrated circuits. General requirements to apparatus and conditions for measurement of electrical parameters
Настоящий стандарт распространяется на интегральные аналоговые микросхемы и устанавливает общие требования к условиям измерения электрических параметров, а также требования безопасности к измерительной аппаратуре -
Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые для поверхностного монтажа. Требования к конструкции
Integrated microcircuits and semiconductor device service mounted technology. Requirements to packages
Настоящий стандарт распространяется на интегральные микросхемы (ИС) и полупроводниковые приборы (ПП), предназначенные для использования в технологии поверхностного монтажа, и устанавливает требования к их перспективным конструкциям и выбору унифицированных размеров.
Стандарт является обязательным документом при разработке изделий для поверхностного монтажа, обеспечивающих выполнение требований автоматизированной сборки аппаратуры -
Приборы полупроводниковые. Интегральные схемы. Часть 11. Раздел 1. Внутренний визуальный контроль полупроводниковых интегральных схем, за исключением гибридных схем
Semiconductor devices integrated circuits. Part 11. Section 1. Internal visual examination for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits
Настоящий стандарт устанавливает испытания, которые проводят с целью проверки внутренних материалов, изготовления и сборки интегральных схем на соответствие требованиям применяемых технических условий на изделия конкретных типов
