Общероссийский классификатор стандартов → ЭЛЕКТРОНИКА → Интегральные схемы. Микроэлектроника *Включая электронные микросхемы, логические и аналоговые микроструктуры *Микропроцессоры см. 35.160
31.200. Интегральные схемы. Микроэлектроника *Включая электронные микросхемы, логические и аналоговые микроструктуры *Микропроцессоры см. 35.160
-
Микросхемы интегральные. Метод измерения коэффициента влияния нестабильности источников питания на напряжение и э.д.с смещения нуля операционных усилителей
Integrated circuits. Method of measuring the power sources instability effect on the operational amplifiers zero drift voltage and emf
Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и устанавливает метод измерения коэффициента влияния нестабильности источников питания на напряжение и э.д.с. смещения нуля -
Микросхемы интегральные. Метод измерения среднего температурного дрейфа напряжения и э.д.с смещения нуля операционных усилителей
Integrated circuits. Method of measuring the operational amplifiers average temperature voltage drift and zero offset emf
Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и устанавливает метод измерения среднего температурного дрейфа напряжения и э.д.с -
Микросхемы интегральные. Метод измерения среднего температурного дрейфа входных токов и разности входных токов операционных усилителей
Integrated circuits. Method of measuring the operational amplifiers input bias current temperature drift and input currents
Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и устанавливает метод измерения среднего температурного дрейфа разности входных токов и входных токов -
Микросхемы интегральные. Метод измерения максимальной скорости и времени нарастания выходного напряжения операционных усилителей
Integrated circuits. Method of measuring the operational amplifiers output voltage maximum build-up rate and time
Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и устанавливает метод измерения максимальной скорости и времени нарастания выходного напряжения -
Микросхемы интегральные. Методы измерения коэффициента ослабление синфазных входных напряжений операционных усилителей и компараторов напряжения
Integrated circuits. Methods of measuring the operational amplifiers and voltage comparators input common mode voltage rejection ratio
Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители (ОУ) и компараторы напряжения (КН) и устанавливает методы измерения коэффициента ослабления синфазных входных напряжений:
1 - метод с подачей синфазных входных напряжений на входы проверяемого ОУ или КН через резистивный мост;
2 - метод с подачей синфазных входных напряжений посредством изменения напряжения питания -
Микросхемы интегральные. Методы измерения шумовых параметров операционных усилителей
Intergated microcircuits. Methods for measuring noise parameters of operational amplifiers
Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и устанавливает методы измерения:
нормированной э.д.с. шума и нормированного тока шума;
рахмаха шума -
Микросхемы интегральные. Методы измерения частоты среза и частоты единичного усиления операционных усилителей
Integrated microcircuits. Measurement methods of the operational amplifiers cut-off frequency and unitary-gain frequency
Настоящий стандарт распространяется на операционные усилители и устанавливает методы измерения частоты среза и частоты единичного усиления:
метод 1 - измерение частоты среза с плавным изменением частоты входного сигнала; метод 2 - измерение частоты единичного усиления на фиксированной частоте -
Микросхемы интегральные. Методы измерения времени задержки включения и выключения компараторов напряжения
Integrated microcircuits. Methods for measuring delay time of the switching on/off the voltage comparators
Настоящий стандарт распространяется на компараторы напряжения (КН) с двухполярным питанием и устанавливает два метода измерения времени задержки включения и выключения;
метод 1 - для измерения времени задержки включения и выключения КН при входном синфазном напряжении, отличном от 0 В. Метод рекомендуется применять в качестве основного для измерения параметров КН с временем задержки, превышающим или равным 20 нс;
метод 2 - для измерения времени задержки включения и выключения КН при входном синфазном напряжении, равном 0 В. Метод рекомендуется применять для измерения параметров КН с временем задержки, не превышающим 20 нс и в технически обоснованных случаях для остальных КН -
Микросхемы интегральные. Метод измерения частоты полной мощности операционных усилителей
Integrated microcircuits. Method of measuring full power frequency of operational amplifiers
Настоящий стандарт устанавливает метод измерения частоты полной мощности опереционных усилителей -
Микросхемы интегральные. Метод измерения запаса устойчивости по фазе операционных усилителей
Integrated microcircuits. Method of measuring phase stability margin of operational amplifiers
Настоящий стандарт устанавливает метод измерения запаса устойчивости по фазе операционных усилителей
