Время работы:

с 9:30 до 18:00 по Мск

Общероссийский классификатор стандартовЭЛЕКТРОНИКАИнтегральные схемы. Микроэлектроника *Включая электронные микросхемы, логические и аналоговые микроструктуры *Микропроцессоры см. 35.160

31.200. Интегральные схемы. Микроэлектроника *Включая электронные микросхемы, логические и аналоговые микроструктуры *Микропроцессоры см. 35.160

1 2 3 4 5 6 7

  • ГОСТ 24613.16-77.

    действующий
    от: 22.03.2010

    Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения начального остаточного напряжения коммутаторов аналоговых сигналов
    Optoelectronic integrated microcircuits. Method for measuring initial residual voltage of analogue signal commutators
    Настоящий стандарт распространяется на коммутаторы аналоговых сигналов интегральных оптоэлектронных микросхем и устанавливает метод измерения начального остаточного напряжения

  • ГОСТ 24613.17-77.

    действующий
    от: 22.03.2010

    Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения выходного дифференциального сопротивления коммутаторов аналоговых сигналов
    Optoelectronic integrated microcircuits. Method for measuring output differential resistance of analogue signal commutators
    Настоящий стандарт распространяется на коммутаторы аналоговых сигналов интегральных оптоэлектронных микросхем и устанавливает метод измерения выходного дифференциального сопротивления

  • ГОСТ 24613.18-77.

    действующий
    от: 22.03.2010

    Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Методы измерения сопротивления изоляции
    Optoelectronic integrated microcircuits and optocouplers. Methods for measuring isolation resistance
    Настоящий стандарт распространяется на оптопары и оптоэлектронные интегральные микросхемы и устанавливает метод измерения сопротивления изоляции

  • ГОСТ 24613.19-77.

    действующий
    от: 22.03.2010

    Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения коэффициента передачи по току
    Optoelectronic integrated microcircuits and optocouplers. Method for measuring current transfer ratio
    Настоящий стандарт распространяется на оптопары и оптоэлектронные интегральные микросхемы и устанавливает метод измерения коэффициента передачи тока

  • ГОСТ 26949-86.

    действующий
    от: 22.03.2010

    Микросхемы интегральные. Методы измерения электрических параметров непрерывных стабилизаторов напряжения
    Integrated microcircuits. Methods for measuring of electrical parameters of continuous voltage regulators
    Настоящий стандарт распространяется на непрерывные стабилизаторы напряжения и устанавливает методы измерения электрических параметров:

    нестабильности по напряжению;

    нестабильности по току;

    коэффициента сглаживания пульсаций;

    температурного коэффициента напряжения;

    дрейфа выходного напряжения

  • ГОСТ 26975-86.

    действующий
    от: 22.03.2010

    Микросборки. Термины и определения
    Micro-assemblies. Terms and definitions
    Настоящий стандарт устанавливает термины и определения понятий в области разработки, применения и изготовления микросборок.

    Термины, установленные настоящим стандартом, обязательны для применения во всех видах документации и литературы, входящих в сферу действия стандартизации или использующих результаты этой деятельности

  • ГОСТ 27694-88.

    действующий
    от: 22.03.2010

    Микросхемы интегральные. Усилители низкой, промежуточной и высокой частоты. Методы измерения электрических параметров
    Integrated circuits. Low-, intermediate- and high-frequency amplifiers. Methods for measuring electric parameters
    Настоящий стандарт распространяется на усилители низкой, промежуточной и высокой частоты и устанавливает требования для методов измерения электрических параметров

  • ГОСТ 27780-88.

    действующий
    от: 22.03.2010

    Микросхемы интегральные. Коммутаторы и ключи. Методы измерения электрических параметров
    Integrated circurts. Multiplexers and switches. Methods for measurement of electric parameters
    Настоящий стандарт распространяется на микросхемы класса коммутаторов и ключей и устанавливает требования для методов измерения электрических параметров микросхем

  • ГОСТ 28111-89.

    действующий
    от: 22.03.2010

    Микросборки на цилиндрических магнитных доменах. Термины и определения
    Bubble memory device. Terms and definitions
    Настоящий стандарт устанавливает термины и определения понятий в области микросборок на цилиндрических магнитных доменах

  • ГОСТ 28623-90.

    действующий
    от: 22.03.2010

    Приборы полупроводниковые. Часть 10. Общие технические условия на дискретные приборы и интегральные микросхемы
    Semiconductor devices. Part 10. General specification for discrete devices and integrated circuits
    Настоящий стандарт устанавливает общие технические условия на полупроводниковые приборы, дискретные приборы и интегральные микросхемы, включая многокристальные микросхемы, за исключением оптоэлектронных приборов и интегральных микросхем

1 2 3 4 5 6 7