Общероссийский классификатор стандартов → ЭЛЕКТРОНИКА → Полупроводниковые приборы *Полупроводниковые материалы см. 29.045
31.080. Полупроводниковые приборы *Полупроводниковые материалы см. 29.045
← 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 →
-
Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума
Zener diodes. Methods for measuring spectral noise density
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые стабилитроны и устанавливает два метода измерения спектральной плотности шума:
метод 1 применяют при измерении спектральной плотности шума стабилитронов с установленной полосой частот измерения в диапазоне 5 Гц - 30 МГц;
метод 2 применяют при измерении спектральной плотности шума прецизионных стабилитронов с установленной полосой частот измерения в диапазоне 0,01-5 Гц -
Диоды полупроводниковые. Метод измерения пробивного напряжения
Semiconductor diodes. Measurement method of breakdown voltage
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения пробивного напряжения -
Транзисторы полевые. Термины, определения и буквенные обозначения параметров
Field effect transistors. Terms, definitions and parameter symbols
Настоящий стандарт устанавливает применяемые в науке, технике и производстве термины, определения и буквенные обозначения электрических параметров полевых транзисторов -
Тиристоры. Общие требования к методам измерения параметров
Thyristors. General requirements for methods of measuring parameters
Настоящий стандарт распространяется на тиристоры и устанавливает общие требования к методам измерения параметров.
Стандарт не распространяется на силовые тиристоры -
Тиристоры. Метод измерения напряжения переключения
Thyristors. Method for measuring switching voltage
Настоящий стандарт распространяется на тиристоры и устанавливает метод измерения напряжения переключения.
Стандарт не распространяется на силовые тиристоры -
Тиристоры триодные. Метод измерения отпирающего постоянного и импульсного тока управления и отпирающего постоянного и импульсного напряжения управления
Triode thyristors. Method for measuring trigger direct and peak gate current and trigger direct and peak gate voltage
Настоящий стандарт распространяется на триодные тиристоры и устанавливает метод измерения отпирающего постоянного и импульсного тока управления и отпирающего постоянного и импульсного напряжения управления
Стандарт не распространяется на силовые тиристоры -
Тиристоры триодные. Метод измерения времени выключения
Triode thyristors. Method for measuring turn-off time
Настоящий стандарт распространяется на триодные тиристоры и устанавливает метод измерения времени выключения.
Стандарт не распространяется на силовые тиристоры -
Тиристоры. Метод измерения времени включения, нарастания и задержки
Thyristors. Method for measuring turn-on, rise and delay times
Настоящий стандарт распространяется на диодные тиристоры малой и средней мощности с максимально допустимым постоянным током в открытом состоянии не более 10 А и устанавливает метод измерения времени включения, нарастания и задержки -
Тиристоры триодные. Метод измерения времени включения, нарастания и задержки
Triode thyristors. Method for measuring turn-on, rise and delay time
Настоящий стандарт распространяется на триодные тиристоры и устанавливает метод измерения времени включения, нарастания и задержки.
Стандарт не распространяется на силовые тиристоры -
Тиристоры. Методы измерения электрических параметров
Thyristors. Methods for measuring electrical parameters
Настоящий стандарт распространяется на тиристоры и устанавливает методы измерения:
критической скорости нарастания напряжения в закрытом состоянии;
тока удержания и тока включения;
постоянного и повторяющегося импульсного тока в закрытом состоянии, постоянного и повторяющегося импульсного обратного тока;
постоянного и импульсного напряжения в открытом состоянии;
неотпирающего постоянного и импульсного напряжения управления триодных тиристоров.
Стандарт не распространяется на силовые тиристоры
