Общероссийский классификатор стандартов → ЭЛЕКТРОНИКА → Оптоэлектроника. Лазерное оборудование *Включая фотоэлементы
31.260. Оптоэлектроника. Лазерное оборудование *Включая фотоэлементы
-
Лазеры. Методы измерения диаметра пучка и энергетической расходимости лазерного излучения
Lasers. Methods for measurement of beam diameter and beam energy divergence angle
Настоящий стандарт распространяется на лазеры непрерывного и импульсного режимов работы и устанавливает методы измерения:
- диаметра пучка излучения:
- метод калиброванных диафрагм,
- метод распределения плотности энергии (мощности) лазерного излучения;
- энергетической расходимости лазерного излучения:
- метод фокального пятна,
- метод двух сечений -
Система несущих конструкций серии 482,6 мм. Каркасы блочные и частичные вдвижные. Основные размеры
System of bearing structures of the 482,6 mm series. Subracks and associated plug-in units. Main dimensions
Настоящий стандарт устанавливает основные размеры модульного ряда блочных каркасов для их установки в оборудовании, кроме технических средств агрегатной системы вычислительной техники на перестраиваемых структурах, а также основные размеры совместимого ряда вдвижных частичных каркасов и печатных плат -
Приборы фоточувствительные с переносом заряда. Методы измерения параметров
Photosensitive charge transfer device. Measuring methods for parameters
Настоящий стандарт распространяется на фоточувствительные приборы с переносом заряда линейные и матричные (далее-приборы), предназначенные для работы в радиотехнических и телевизионных системах в области спектра от 350 до 1100 нм, и устанавливает методы измерения следующих параметров и характеристик: выходного сигнала; напряжения насыщения и тока насыщения; неравномерности выходного сигнала; интегральной чувствительности; темнового сигнала и неравномерности темнового сигнала; монохроматическо чувствительностий и области спектральной чувствительности; коэффициента передачи модуляции; числа дефектов фоточувствительного поля; среднего квадратического напряжения шума и динамического диапазона; пороговой освещенности и пороговой экспозиции; токов утечки между электродами -
Полупроводниковые приборы. Дискретные приборы и интегральные схемы. Часть 5. Оптоэлектронные приборы
Semiconductor devices. Discrete devices and integrated circuits. Part 5. Optoelectronic devices
Настоящий стандарт устанавливает требования к следующим классам или подклассам приборов: полупроводниковые излучатели, включая: оптоэлектронные полупроводниковые приборы отображения информации (на рассмотрении), светоизлучающие диоды (СИД), инфракрасные излучающие диоды (ИК-диоды), полупроводниковые лазеры (на рассмотрении); полупроводниковые фоточувствительные приборы, включая: фотодиоды, фототранзисторы; фототиристоры (на рассмотрении); фотопары, оптопары.
Настоящий стандарт разработан методом прямого применения международного стандарта МЭК 747-5-84 -
Государственная система обеспечения единства измерений. Лазеры измерительные. Методика поверки
State system for ensuring the uniformity of measurements. Measuring lasers. Method for verification
Настоящий стандарт распространяется на лазеры непрерывного излучения и устанавливает методику первичной и периодической поверок -
Лазеры и излучатели твердотельные. Методы измерения максимальной локальной плотности энергии (мощности) лазерного излучения
Lasers and solid-state laser heads. Measurement methods of peak local energy (power) density
Настоящий стандарт распространяется на твердотельные лазеры и излучатели и устанавливает два метода измерения максимальной локальной плотности энергии (мощности) лазерного излучения:
А - метод измерения максимальной локальной плотности энергии (мощности) лазерного излучения, основанный на ослаблении энергии (мощности) лазерного излучения;
Б - метод измерения максимальной локальной плотности энергии (мощности) лазерного излучения, основанный на концентрации энергии (мощности) лазерного излучения.
Минимальный диаметр сечения контролируемой области максимальной локальной плотности энергии (мощности) лазерного излучения составляет 100 мкм -
Лазеры и излучатели твердотельные. Метод измерения поляризационных характеристик лазерного излучения
Lasers and solid-state laser heads. Method of measurement of polarization characteristics
Настоящий стандарт распространяется на твердотельные лазеры и излучатели импульсного режима с модуляцией добротности и устанавливает метод измерения параметров, определяющих состояние поляризации лазерного излучения: параметров Стокса, степени поляризации лазерного излучения, азимута эллиптически-поляризованного излучения, эллиптичности поляризации -
Излучатели полупроводниковые. Метод измерения угла излучения
Semiconductor photoemitters. Measuring method for halfintensity angle
Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые излучатели и устанавливает метод измерения угла излучения. Общие требования при измерении и требования безопасности - по ГОСТ 19834.0, термины - по ГОСТ 27299 -
Приборы наблюдательные телескопические. Методы контроля параметров
Observation telescopes. Test methods of characteristics
Настоящий стандарт распространяется на оптические наблюдательные телескопические приборы (бинокли, монокуляры, зрительные трубы, охотничьи прицелы) и устанавливает методы измерения и контроля параметров:
углового увеличения;
диаметра выходного зрачка и его удаления от окуляра;
коэффициента пропускания;
коэффициента рассеяния;
углового поля зрения;
сходимости выходящего из окуляра пучка лучей;
отклонения от параллельности выходящих из окуляров пучков лучей;
межзрачкового расстояния;
предела разрешения;
угла поворота изображения -
Лазерная безопасность. Общие требования безопасности при разработке и эксплуатации лазерных изделий
Laser safety. General requirements for development and operation the laser products
Настоящий стандарт устанавливает комплект требований по безопасности к лазерным изделиям на стадии проектирования, изготовления, эксплуатации и при сертификации.
Стандарт распространяется на лазеры и изделия на основе лазеров
