Общероссийский классификатор стандартов → ЭЛЕКТРОНИКА → Оптоэлектроника. Лазерное оборудование *Включая фотоэлементы
31.260. Оптоэлектроника. Лазерное оборудование *Включая фотоэлементы
-
Источники высокоинтенсивного оптического излучения газоразрядные спектральные. Общие технические условия
Spectral high-intensity gas-discharge sources of optical radiation. General specifications
Настоящий стандарт распространяется на спектральные газоразрядные источники высокоинтенсивного оптического излучения, излучающие линейный спектр одного или нескольких химических элементов, либо сплошной спектр в узкой области оптического диапазона длин волн, предназначенные для спектрофотометрических устройств производственно-технического назначения, изготовляемые для народного хозяйства и экспорта -
Фотоэлементы. Общие требования при измерении параметров
Photocells. General requirements for characteristics measurements
Настоящий стандарт распространяется на электровакуумные фотоэлементы и устанавливает общие положения для стандартов на метод измерения следующих параметров:
световой чувствительности;
нестабильности;
темнового тока;
сопротивления изоляции;
неравномерности чувствительности по фотокатоду;
предела линейности световой характеристики в непрерывном режиме;
предела линейности световой характеристики в импульсном режиме -
Фотоэлементы. Метод измерения световой чувствительности
Photocells. Method of measurement of luminous sensitivity
Настоящий стандарт распространяется на электровакуумные фотоэлементы и устанавливает метод косвенного измерения световой чувствительности фотоэлементов -
Фотоэлементы. Метод измерения темнового тока
Photocells. Method of dark current measurement
Настоящий стандарт распространяется на электровакуумные фотоэлементы и устнавливает метод прямого измерения темнового тока -
Фотоэлементы. Метод измерения сопротивления изоляции
Photocells. Method of insulation resistance measurement
Настоящий стандарт распространяется на электровакуумные фотоэлементы и устанавливает метод косвенного измерения сопротивления изоляции участка анод - охранное кольцо -
Фотоэлементы. Метод измерения неравномерности чувствительности
Photocells. Method of measurement of sensitivity nenuniformity
Настоящий стандарт распространяется на электровакуумные фотоэлементы и устанавливает метод косвенного измерения неравномерности чувствительности -
Фотоэлементы. Метод измерения нестабильности
Photocells. Method of instability measurement
Настоящий стандарт распространяется на электровакуумные фотоэлементы и устанавливает метод косвенного измерения нестабильности фотоэлементов при фототоках в цепи фотоэлемента от 10 в ст. минус 10 А и выше -
Фотоэлементы. Метод определения соответствия световой характеристики фотоэлемента заданному пределу линейности в непрерывном режиме
Photocells. Determination method of correspondence of current-illumination characteristic of photocell to given linearity limit in continuous operation conditions
Настоящий стандарт распространяется на электровакуумные фотоэлементы и устанавливает метод косвенного определения соответствия световой характеристики фотоэлемента заданному пределу линейности в непрерывном режиме -
Фотоэлементы. Метод определения соответствия световой характеристики фотоэлемента заданному пределу линейности в импульсном режиме
Photocells. Determination method of correspondence of current-illumination characteristic of photocell to given linearity limit in pulsed operation conditions
Настоящий стандарт распространяется на электровакуумные фотоэлементы и устанавливает метод косвенного определения соответствия световой характеристики фотоэлемента заданному пределу линейности в импульсном режиме -
Источники высокоинтенсивного оптического излучения газоразрядные. Общие положения при измерении электрических и световых параметров
Gaseous discharge sources of high-intensity optical radiation. Methods for measuring the electrical and luminous parameters. General rules
