Общероссийский классификатор стандартов → ЭЛЕКТРОНИКА
31. ЭЛЕКТРОНИКА
← 1 2 3 4 5 … 69 70 71 72 73 74 75 76 77 78 79 80 81 →
-
Варисторы. Метод испытания импульсной электрической нагрузки
Varistors. Method of test by pulse electrical load
Настоящий стандарт распространяется на постоянные варисторы с симметричной нелинейной вольт-амперной характеристикой и устанавливает метод их испытания импульсной электрической нагрузкой.
Стандарт не распространяется на многосекционные варисторы -
Варисторы. Метод измерения емкости
Varistors. Method of measuring capacitance
Настоящий стандарт распространяется на варисторы с нелинейной вольт-амперной характеристикой и устанавливает метод измерения емкости -
Микросхемы интегральные аналоговые. Общие требования к измерительной аппаратуре и условиям измерения электрических параметров
Analog integrated circuits. General requirements to apparatus and conditions for measurement of electrical parameters
Настоящий стандарт распространяется на интегральные аналоговые микросхемы и устанавливает общие требования к условиям измерения электрических параметров, а также требования безопасности к измерительной аппаратуре -
Модули полупроводниковые силовые. Общие технические условия
Power semiconductor modules. General specifications
Настоящий стандарт распространяется на силовые полупроводниковые модули общего назначения, состоящие из полупроводниковых приборов и (или) структур: диодов, биполярных (в том числе составных) транзисторов, полевых транзисторов и тиристоров всех видов на максимально допустимые средние, действующие, импульсные или постоянные токи 5 А и более, предназначенные для применения в полупроводниковых преобразователях электроэнергии, а также в других цепях постоянного и переменного тока различных силовых электротехнических установок.
Настоящий стандарт не распространяется на модули, работающие:
- в средах с токопроводящей пылью;
- в агрессивных средах при концентрациях, разрушающих металлы и изоляцию в недопустимых пределах в течение срока службы;
- во взрывоопасной среде;
- в условиях воздействия различных излучений, повреждающих модули -
Изделия электронной техники. Маркировка
Electronic components. Marking
Настоящий стандарт распространяется на изделия электронной техники.
Стандарт устанавливает общие требования к маркировке изделий и их тары, требования к содержанию и качеству маркировки, а также методы контроля качества маркировки изделий и их тары -
Источники высокоинтенсивного оптического излучения газоразрядные импульсные и непрерывного действия. Методы измерения электрических параметров и параметров излучения
Gaseous discharge pulsed and continuous sources of high-intensity optical radiation. Methods of electrical and radiation parameters measuring
Настоящий стандарт распространяется на газоразрядные источники высокоинтенсивного оптического излучения импульсного и непрерывного действия и устанавливает методы измерения электрических параметров и параметров излучения:
- напряжения зажигания импульсных ламп;
- напряжения самопробоя импульсных ламп;
- напряжения зажигания ламп непрерывного действия;
- напряжения на лампах непрерывного действия;
- силы тока ламп непрерывного действия;
- освечивания, пиковой и средней силы света импульсных ламп и средней силы света ламп непрерывного действия -
Государственная система обеспечения единства измерений. Лазеры измерительные. Методика поверки
State system for ensuring the uniformity of measurements. Measuring lasers. Method for verification
Настоящий стандарт распространяется на лазеры непрерывного излучения и устанавливает методику первичной и периодической поверок -
Лазеры и излучатели твердотельные. Методы измерения максимальной локальной плотности энергии (мощности) лазерного излучения
Lasers and solid-state laser heads. Measurement methods of peak local energy (power) density
Настоящий стандарт распространяется на твердотельные лазеры и излучатели и устанавливает два метода измерения максимальной локальной плотности энергии (мощности) лазерного излучения:
А - метод измерения максимальной локальной плотности энергии (мощности) лазерного излучения, основанный на ослаблении энергии (мощности) лазерного излучения;
Б - метод измерения максимальной локальной плотности энергии (мощности) лазерного излучения, основанный на концентрации энергии (мощности) лазерного излучения.
Минимальный диаметр сечения контролируемой области максимальной локальной плотности энергии (мощности) лазерного излучения составляет 100 мкм -
Лазеры и излучатели твердотельные. Метод измерения поляризационных характеристик лазерного излучения
Lasers and solid-state laser heads. Method of measurement of polarization characteristics
Настоящий стандарт распространяется на твердотельные лазеры и излучатели импульсного режима с модуляцией добротности и устанавливает метод измерения параметров, определяющих состояние поляризации лазерного излучения: параметров Стокса, степени поляризации лазерного излучения, азимута эллиптически-поляризованного излучения, эллиптичности поляризации -
Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые для поверхностного монтажа. Требования к конструкции
Integrated microcircuits and semiconductor device service mounted technology. Requirements to packages
Настоящий стандарт распространяется на интегральные микросхемы (ИС) и полупроводниковые приборы (ПП), предназначенные для использования в технологии поверхностного монтажа, и устанавливает требования к их перспективным конструкциям и выбору унифицированных размеров.
Стандарт является обязательным документом при разработке изделий для поверхностного монтажа, обеспечивающих выполнение требований автоматизированной сборки аппаратуры
