Общероссийский классификатор стандартов → ЭЛЕКТРОНИКА
31. ЭЛЕКТРОНИКА
← 1 2 3 4 5 … 63 64 65 66 67 68 69 70 71 72 73 … 77 78 79 80 81 →
-
Основные методы испытаний на воздействие внешних факторов. Часть 2. Испытания. Испытание Кb: Соляной туман, циклическое (раствор хлорида натрия)
Basic environmental testing procedures. Part 2. Tests. Test Kb: Salt mist, cyclic (sodium chloride solution)
Это испытание предназначено для элементов или аппаратуры, применяемых для работы в среде, насыщенной солями. Цель испытания - определить пригодность элементов или аппаратуры к эксплуатации или хранению в среде, насыщенной солями -
Основные методы испытаний на воздействие внешних факторов. Часть 2. Испытания. Испытание Та: Пайка. Испытание на паяемость методом баланса смачивания
Basic environmental testing procedures. Part 2. Tests. Test Ta: Soldering. Solderability testing by the wetting balance method
Цель испытания - определить паяемости выводов изделий любой формы. Данный метод особенно применим для контрольных испытаний, а также для испытаний изделий, которые не могут быть количественно оценены другими методами -
Основные методы испытаний на воздействие внешних факторов. Часть 3. Дополнительная информация. Раздел 1. Испытания на холод и сухое тепло
Basic environmental testing procedures. Part 3. Background information. Section 1. Cold and dry heat tests
Настоящий стандарт устанавливает метод испытания на холод и сухое тепло. В качестве стандарта непосредственно применен стандарт Международной Электротехнической Комиссии СТ МЭК 68-3-1-74, с 01.03.90 -
Конденсаторы постоянной емкости оксидно-электролитические алюминиевые. Методы испытаний на взрывоустойчивость
Oxide electrolytic aluminium fixed capacitors. Explosion-proof test methods
Настоящий стандарт распространяется на оксидно-электролитические алюминиевые конденсаторы постоянной емкости и устанавливает методы испытания на взрывоустойчивость -
Электромеханические компоненты для электронной аппаратуры. Основные методы испытаний и измерений
Electromechanical components for electronic equipment. Basic testing procedures and measuring methods -
Приборы полупроводниковые. Механические и климатические испытания
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods
Настоящий стандарт устанавливает методы испытаний, применяемые к полупроводниковым приборам (дискретным приборам и интегральным схемам) -
Система несущих конструкций серии 482,6 мм. Панели и стойки. Основные размеры
System of bearing structures of the 482,6 mm series. Panels and racks. Main dimensions
Настоящий стандарт распространяется на панели и стойки, применяемые в системе несущих конструкций серии 482,6 мм, и устанавливает их основные размеры -
Система несущих конструкций серии 482,6 мм. Шкафы и стоечные конструкции. Основные размеры
System of bearing structures of the 482,6 mm series. Cabinets and rack structures. Main dimensions
Настоящий стандарт устанавливает основные размеры свободно стоящих шкафов, а также закрепленных стоечных конструкций, используемых в практике электронного оборудования стоек и панелей серии 482,6 мм -
Система несущих конструкций серии 482,6 мм. Каркасы блочные и частичные вдвижные. Основные размеры
System of bearing structures of the 482,6 mm series. Subracks and associated plug-in units. Main dimensions
Настоящий стандарт устанавливает основные размеры модульного ряда блочных каркасов для их установки в оборудовании, кроме технических средств агрегатной системы вычислительной техники на перестраиваемых структурах, а также основные размеры совместимого ряда вдвижных частичных каркасов и печатных плат -
Резисторы постоянные для электронной аппаратуры. Часть 1. Общие технические условия
Fixed resistors for use in electronic equipment. Part 1. General specification
Настоящий стандарт распространяется на постоянные резисторы для электронной аппаратуры
← 1 2 3 4 5 … 63 64 65 66 67 68 69 70 71 72 73 … 77 78 79 80 81 →
