Общероссийский классификатор стандартов → ЭЛЕКТРОНИКА
31. ЭЛЕКТРОНИКА
← 1 2 3 4 5 … 48 49 50 51 52 53 54 55 56 57 58 … 77 78 79 80 81 →
-
Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Методы измерения критической скорости изменения напряжения изоляции
Optoelectronic integrated microcircuits and optocouples. Methods for measuring of critical change rate of dielectric voltage
Настоящий стандарт распространяется на оптоэлектронные интегральные микросхемы и оптопары, в том числе переключатели логических сигналов, и устанавливает два метода измерения критической скорости изменения напряжения изоляции: прямой и косвенный.
Косвенный метод применяют при наличии вывода от входа встроенной микросхемы, входящей в состав проверяемого прибора -
Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Метод измерения временных параметров
Optoelectronic integrated microcircuits and optocouplers. Method for measuring switching times
Настоящий стандарт распространяется на оптоэлекронные интегральные микросхемы и оптопары и устанавливает метод измерения временных параметров: времени включения, времени выключения, времени спада, времени нарастания, времени задержки, времени сохранения, времени перехода при включении, времени перехода при выключении, времени задержки распространения сигнала при включении, времени задержки распространения сигнала при выключении, времени задержки включения, времени задержки выключения.
Стандарт не распространяется на коммутаторы аналоговых сигналов и нагрузки и тиристорные оптопары -
Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения тока помехи и напряжения помехи низкого и высокого уровней переключателей логических сигналов
Optoelectronic integrated microcircuits. Method for measuring noise current and noise voltage for low and high levels of logic signal switches
Настоящий стандарт распространяется на переключатели логических сигналов оптоэлектронных интегральных микросхем и устанавливает метод измерения тока помехи и напряжения помехи низкого и высокого уровней -
Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения входного напряжения низкого и высокого уровней переключателей логических сигналов
Optoelectronic integrated microcircuits. Method for measuring input voltage for low and high levels of logic signal switches
Настоящий стандарт распространяется на переключатели логических сигналов оптоэлектронных интегральных микросхем и устанавливает метод измерения входного напряжения низкого и высокого уровней -
Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения выходного напряжения низкого и высокого уровней переключателей логических сигналов
Optoelectronic integrated microcircuits. Method for measuring output voltage for low and high levels of logic signal switches
Настоящий стандарт распространяется на переключатели логических сигналов оптоэлектронных интегральных микросхем и устанавливает метод измерения выходного напряжения низкого и высокого уровней -
Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения выходного тока короткого замыкания переключателей логических сигналов
Optoelectronic integrated microcircuits. Method for measuring short circuit of logic signal switches
Настоящий стандарт распространяется на переключатели логических сигналов оптоэлектронных интегральных микросхем и устанавливает метод измерения выходного тока короткого замыкания -
Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения токов потребления при низком и высоком уровнях выходного напряжения переключателей логических сигналов
Optoelectronic integrated microcircuits. Method for measuring consumption currents of low and high levels of logic signal switches
Настоящий стандарт распространяется на переключатели логических сигналов оптоэлектронных интегральных микросхем и устанавливает метод измерения токов потребления при низком и высоком уровнях выходного напряжения -
Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения тока потребления, переключения и длительности тока потребления переключения переключателей логических сигналов
Optoelectronic integrated microcircuits. Method for measuring consumption carrent of switching and its duration of logic signal switches
Настоящий стандарт распространяется на переключатели логических сигналов оптоэлектронных интегральных микросхем и устанавливает метод измерения тока потребления переключения и длительности тока потребления переключения -
Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения начального остаточного напряжения коммутаторов аналоговых сигналов
Optoelectronic integrated microcircuits. Method for measuring initial residual voltage of analogue signal commutators
Настоящий стандарт распространяется на коммутаторы аналоговых сигналов интегральных оптоэлектронных микросхем и устанавливает метод измерения начального остаточного напряжения -
Микросхемы интегральные оптоэлектронные. Метод измерения выходного дифференциального сопротивления коммутаторов аналоговых сигналов
Optoelectronic integrated microcircuits. Method for measuring output differential resistance of analogue signal commutators
Настоящий стандарт распространяется на коммутаторы аналоговых сигналов интегральных оптоэлектронных микросхем и устанавливает метод измерения выходного дифференциального сопротивления
← 1 2 3 4 5 … 48 49 50 51 52 53 54 55 56 57 58 … 77 78 79 80 81 →
